QI-H-023冷熱沖擊試驗機（三箱）

用于測試零部件承受溫度迅速變化之耐力，三箱式冷熱沖擊試驗箱，即適用于質(zhì)量控制的實驗室又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用和軍用產(chǎn)品。

在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫在連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在最短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)或物理傷害。適用的對象包括金屬、塑料、橡膠、電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

蓄熱式冷熱沖擊箱不需要使用液態(tài)氣體（LN2　或 LCO2）輔助降溫，待測物完全靜止測試方式是當(dāng)前電子部品測試、研究、以及半導(dǎo)體生產(chǎn)線大量選用，可大量節(jié)省耗材測試費用，操作快捷、高信賴度。

1.采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面， 操作簡易.

2.設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分， 各區(qū)之箱體釆獨特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。 

3.沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)， 做冷熱沖擊測試。

4.高溫沖擊或低溫沖擊時， 最大時間可達(dá)9999分鐘， 最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

5.系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

6.冷卻采二元冷凍系統(tǒng)， 降溫效果快速， 冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。

7.可連接電腦， 記錄儀僅為選購件。

12 試料槽完全靜止，可由測試孔外加負(fù)載配線。

13蓄熱方式可避免使用職業(yè)傷害。（注：液態(tài)氣體所產(chǎn)生發(fā)氣，吸入肺部致使肺部氧氣量減少，而產(chǎn)生工作倦怠，集中力降低）。

14冷熱沖擊箱采用觸控式彩色液晶顯示人機界面控制器，操作簡單、學(xué)習(xí)容易。

15溫度控制精度高，全部采用PID自動演算 控制。

16可選擇始動位置，高溫或低溫開始循環(huán)。

17具有預(yù)約起動功能。

18可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動除霜。

19試驗箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部份，各區(qū)箱體采用獨特的隔熱結(jié)構(gòu)，測試時可選擇二槽（兩箱法）或三槽（三箱法）沖擊試驗。

20可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜。運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線，異常及故障點顯示說明及排除方法。

21有異常或故障顯示及排除方法說明。

22歐美原裝高效率復(fù)疊壓縮冷凍機組，運轉(zhuǎn)噪音低，省能源之設(shè)備。

1.型號：QI-H-023

2.溫度范圍（測試區(qū)）：(150℃～A：-45℃；B：-55℃；C：-65℃)；

3.(高溫區(qū)：+60℃～+150℃；低溫區(qū)-10℃～-65℃)

4.升溫時間(蓄熱區(qū))：RT～200℃約需35min

5.降溫時間(蓄冷區(qū))：RT～-70℃約需85min

6.溫度回復(fù)時間/轉(zhuǎn)換時間：≤5min內(nèi) / ≤l0秒內(nèi)

7.溫度控制精度/分布精度：±0.5℃/±2.0℃

8.保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

9.系統(tǒng)：P．I．D + S．S．R + 微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)

10.冷卻系統(tǒng)：半密閉式雙段壓縮機(水冷式)/全密閉式雙段壓縮機(風(fēng)冷式)

11.試驗箱內(nèi)部尺寸：按客戶要求制造

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；

2、GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；

5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。

7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式

8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式

9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則

13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估